Descripción:

El LAB SEM es un laboratorio de acceso abierto a todos los investigadores, ingenieros, técnicos y estudiantes del CIO. Usuarios externos al CIO también podrán usarlo previa solicitud
El Microscopio Electrónico de Barrido o SEM (Scanning Electron Microscope), inventado en 1937 por Manfred von Ardenne es aquel que utiliza un haz de electrones en vez de un haz de luz para formar, visualizar y analizar una imagen. Tiene una gran profundidad de campo que permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra. Permite analizar imágenes en alta resolución (de sólo nanómetros, 1 nm = 10-9 m) de forma que las características más ínfimas de la muestra pueden ser visualizadas con gran amplificación (hasta de 1 000 000 X). La preparación de las muestras es relativamente fácil.
Este nuevo equipo SEM (modelo JSM-7800F de Jeol), único en el CIO y uno de vanguardia en el país, es un equipo de alta resolución de emisión de campo capaz de formar y analizar imágenes de sólo unos pocos nanómetros de tamaño hasta varias micras. Se pueden examinar muestras de tamaño máximo de 10 cm2 × 5 cm

Responsables del laboratorio:

Contacto: M.C. Chris Albor
e-mail: chris_albor@cio.mx
Ubicación: Edificio D, # 620
Tel.: +52 (477) 441 4200 ext. 330 | 331